電鍍鍍層膜厚分析儀的主要功能：

　　(1).測量：單探頭全量程測厚。

　　(2).存儲、刪除：可存入測量數據600個，對測量中的單個可疑數據進行刪除，也可以刪除存儲區內的所有數據。

　　(3).讀：讀出已存入的測量數據。

　　(4).統計：設有三個統計量。

　　(5).校準：可進行零點校準、兩點校準及系統校準。

　　(6).電量：具有欠壓顯示功能。

　　(7).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示。

　　(8).打印：可打印測量值，選配微型打印機。

　　(9).關機：具有自動關機和手動關機兩種方法。

 

　　電鍍鍍層膜厚分析儀的原理：

　　若一個電子由軌道游離，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達到穩定的狀態，此種不同能階轉換的過程可釋放出能量，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。

 

　　原子的特性由原子序來決定，亦即質子的數目或軌道中電子的數目，即特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。

 

　　特定的X-射線可由比例計數器來偵測。當輻射撞擊在比例器后，即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。

 

　　使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生，而檢測系統將其轉換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。